硅胶产品检验标准
一. 一般标准
1. 工作温度:-15 C—+80 C
2•贮存温度:-30 C—+85 C
3•贮存时间:A.产品在无挤压情况下平放:可长期保贮
B.产品在挤压情况下存放:1个月
4•工作相对湿度:45 % — 95 %
5•工作气压:86-106Kpa
6. 接 触 率:5MA 在 12VDC/0.5 秒/2*107 次
7. 接触反弹:<12毫秒
8. 绝缘电阻:>1012欧姆/500VDC
9. 击穿电压:>25KV/mm
二. 外观
1. 颜色
(1) .标准:硫化装配后硅胶不外露,无较大差异
(2) .检测方法:在明亮的自然光或 40W日光灯下,将标准样品或色卡与待校样品放
在一起经视力1.0以上,无色盲的专业人员在肉眼与样品间距为 30cm的情
况下目检5秒钟.
2. 偏心
(1) 标准:H厚薄 弹性壁厚度w 0.1MM时,模具检测时X=20 %;
wx 弹性壁厚度 w 0.2MM时,模具检测时X=15%
H厚+ H薄
弹性壁厚度 w 0.3MM时,模具检测时 X=8%
(2) 检测方法:用厚度仪测试。
3. 溢料
(1) 标准:从键面向下
单色料高胡出外壳高度+1.0MM,装外壳后看不见为宜.
(2) 检测方法:用游标卡尺测量
4. 毛边
(1)标准:产品边缘:w 0.5MM
定位孔:w 0.1MM
5. 破裂
(1) 标准:无影响装配与使用性能之处 :w 1.0MM
(2) 检测方法:用游标卡尺测量
6. 色点凹凸点
(1)标准:客户装配后硅胶外露部分:无明显可见
检测方法:在明亮的自然光或 40瓦日光灯照射下,将样品放于距肉眼 30CM左右处经 视力
1.0以上人员目测5秒钟
7. 以上字符偏移 (1) 标准:中心值 ±).15MM
(2) 检测方法:用工具显微镜测量 三. 物理性能
1尺寸
L<10 : L 0±5MM
10< L<20 : L ± 0.08MM
20 < L<30 : L ± 0.10MM
30 < L<50 : L ± 0.15MM
50 < L<100 : L ± 0.3 % LMM
100 WL : L ± 0.5 % LMM
(2) 检测方法:用投影仪测量
2•弹力
(1)标准:
A.峰值P1
标准值:
50 ±5-10)g
70 ±10-15)g
90 ±15-20)g
100 ±15-20)g
120 ±20-25)g
150 ±20-25)g 170 ±25-30)g 200-300g 35g
b. 最小回弹P3
P1W 50G寸:P3 > 20G
5OG 25G12OG 30G180G 40G250G 50Gc. 感觉:20九80 %
d. 离散性
P1中心值w 150g寸,同片产品之同种键型:w 15 %
不同片产品之同种键型:w 20 %
P1中心值> 150g寸,同片产品之同种键型:w 20 %
不同片产品之同种键型:w 25 %
(2)测试方法:用 AIKOH MODEL 1305 弹力测量仪测出弹力随冲程的变化曲线图读取其峰值 弹P3计算其:
P1,接触弹力P2,最小回
感觉=(P1-P2)/P1*100 %
离散性=((P1最大峰值)-P1(最小峰值))/P1(最大峰值)*100 %
3•接触电阻
(1)标准:
a. 黑粒导电:w 10欧姆 b. 移印导电:< 25欧姆
c. 丝印导电:< 50欧姆
(2)测试方法:用压力为250g压力使产品键之导电基压在间隔为 0.5MM的单缝半月形镀金板上•待万用表显示值基本
稳定后,读取其显示值.
5.寿命
a. 弹性壁寿命
(1) 标准:> 5万次
(2) 测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为 2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程
+[0.1-0.2]mm,经10万次打击后,弹性壁不得开裂破损,可回弹且提失< 30%当客户无要求时均按
50万次进行测试.
b. 印刷导电寿命
(1) 标准:> 2,000,0次
(2) 测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为 2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程
+[0.1-0.2]mm,经20万次打击后,导电物质不得从导电基上脱落且其接触电阻在规格内
c. 印刷字体寿命
(1) 标准:> 10圈
(2) 测试方法:将字符单键安装于 PK-3-4字体寿命仪上,使键高出0.5-1.0MM,在加上500G的压力转动摩擦,字体不断 开,当客户无明确要求时可采用目视厚度方法进行寿命控制
d. PU寿命
⑴标准:> RCA 5圈
⑵测试方法:将测试KEY安装于RCA摩擦仪上露了高度 0.5-1mm,压力为175g情况下字体出现损伤时寿命即
为PU寿命.客户无要求时,PU寿命按此标准.
四. 化学性能(只限录音电话机的硅胶按键 ) 1•加热失重率
(1) 标准:a. <坯2经200 C /4HRS加热失重后)
b. < 1.0(经200 C /24HRS加热失重后)
(2) 测试方法:将产品放于干燥箱内 30分钟,然后取出,用分析天平称取测试前产品的片重 ,W1将产品放入温度为
W2,计算
200+/-5 C的烘箱内烘烤4小时或24小时,然后将产品拿出放入干燥箱内放置 (W1-W2 )/W1*100 %之值.
30分钟后用分析天平称取其重量
2. 抽提失重率
(1)标准:< 3霜
(3) 测试方法:选取一些有代表性的键,剪取约0.5g样品,再将其剪成0.005-0.01g的小粒,用分析天平称其准确总重为
(IPA)进行提2小时,然后取出样品再放入温度为
W2,计算(W1-W2)/W1*100%之值.
100C的烘箱内烘烤半小时,取出后
W1,将样品放抽提器内并加入异炳醇
放入干燥箱内冷却半小时称其准确总重
3. 低分子含量
(1) 标准:D3-D10W 300PPM
测试方法:选取有代表性的键 1.00+/-0.002g样品,将其剪成约为2mm的小颗粒,放入
小瓶内,再将20ML CCL4溶液注入小瓶中,加入20UL的内标物(CH3(CH2 9CH3)
摇匀存放16-24HRS,用色谱分析仪测量其 D3-D10的量.