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专利名称：集成电路老化试验装置专利类型：发明专利发明人：曹骥,吴福铭,任旭东申请号：CN201810234826.2申请日：20180321公开号：CN108519548A公开日：20180911
摘要：本发明所述的集成电路老化试验装置，包括用于加热试验器件的高温试验箱、用于进行老化试验的老化测试板、用于控制每个老化测试板的集成电路板、用于发出激励信号的信号发生器、用于提供可调直流电压的电源控制板、用于检测老化输入输出信号的信号检测器、用于向老化测试板提供所需电压的老化电源以及用于控制老化过程的控制器，所述高温试验箱包括箱体和温控器，所述箱体上设有用于放置试验器件的试验器件装载区、用于安装电源控制板和信号发生器的控制腔、用于放置老化电源的电源放置腔；所述老化测试板安装在所述箱体的试验器件装载区内。本发明的有益效果是：信号质量高，远距离传输信号高保真完整性好。
申请人：杭州可靠性仪器厂
地址：311251 浙江省杭州市江干区杨家桥79号
国籍：CN
代理机构：杭州天正专利事务所有限公司
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